在早期失效階段,有缺陷的、受污染的或處于臨界狀態(tài)的電子元器件會在這個時期失效而暴露出來。這個階段時間很短,有的元器件僅幾天便會失效,早早地便被淘汰。正常失效期為元器件的正常工作階段,也是元器件的壽命期限。本文收集整理了一些資料,期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。


合同評審,進行現(xiàn)場勘探(必要時),簽訂合同。選定采樣員(至少2人,持證上崗)。制定采樣方案(需審核、批準)。采樣用品準備?,F(xiàn)場采樣(觀察四周,記錄時間、地點、環(huán)境情況,開始采樣、記錄、封口、裝箱、裝車、送回實驗室)。打包裝車送回實驗室。檢測。結(jié)果報告。


可靠性,是質(zhì)量控制的一個分支。但是把可靠性提升到一個專門技術(shù)來看待,是產(chǎn)品不斷追求的一個必要階段??煽啃匝芯康膬纱髢?nèi)容就是失效分析和可靠性測試(包括破壞性實驗)。兩者之間是相互影響和相互制約的。因此,必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機理,找出失效原因,反饋給設(shè)計、制造和使用,共同研究和實施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。


電子元器件主要包括元件和器件,電子元件是生產(chǎn)加工過程中分子成分不被改變的成品,比如:電容、電阻和電感等。電子器件是生成加工過程中分子結(jié)構(gòu)發(fā)生變化的成品,比如:電子管、集成電路等。為幫助大家深入了解,本文將對各種電子元器件失效原因的相關(guān)知識予以匯總。如果您對本文即將要涉及的內(nèi)容感興趣的話,那就繼續(xù)往下閱讀吧。


內(nèi)部審核是對體系運行的符合性、適宜性和有效性進行系統(tǒng)的、定期的審核,保證管理體系的自我完善和持續(xù)改進過程。管理評審為實驗室最高管理者就質(zhì)量方針和目標,對質(zhì)量體系的現(xiàn)狀和適應(yīng)性進行的正式評價。


電路板常見的焊接缺陷有很多,這些因素會對線路板產(chǎn)生一些危險,下面就常見的焊接缺陷、外觀特點、危害,以及原因分析進行詳細說明。如果您對本文即將要涉及的內(nèi)容感興趣的話,那就繼續(xù)往下閱讀吧。


電子元器件是航天產(chǎn)品不可缺少的重要組成部分,是其賴以提高性能和可靠性水平的重要技術(shù)基礎(chǔ)之一。航天事業(yè)發(fā)展的歷程告訴我們,電子元器件的性能、質(zhì)量與可靠性是航天產(chǎn)品成敗的關(guān)鍵性因素之一。本文收集整理了一些資料,期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。


FMEA是在產(chǎn)品設(shè)計階段和過程設(shè)計階段,對構(gòu)成產(chǎn)品的子系統(tǒng)、零件,對構(gòu)成過程的各個工序逐一進行分析,找出所有潛在的失效模式,并分析其可能的后果,從而預先采取必要的措施,以提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性的一種系統(tǒng)化的活動。為增進大家對產(chǎn)品失效分析FMEA的認識,以下是小編整理的失效分析FMEA項目相關(guān)內(nèi)容,希望能給您帶來參考與幫助。


實驗室儀器設(shè)備的問題與風險 1、相互有影響的儀器設(shè)備放置在一起,相互干擾,數(shù)據(jù)不準。 2、儀器設(shè)備長期不校準/檢定,準確性無保障。 3、儀器設(shè)備不做期間核査,性能不撐控。 4、儀器設(shè)備無狀態(tài)標識或標識混亂,容易錯用。


在實際加工過程中也會遇到PCBA焊點失效的問題,焊點的失效一方面來源于生產(chǎn)裝配中的焊接故障,如釬料橋連、虛焊、曼哈頓現(xiàn)象等;另一方面是在服役條件下,當環(huán)境溫度變化時,由于元器件與基板材料存在的熱膨脹系數(shù)差,在焊點內(nèi)產(chǎn)生熱應(yīng)力,應(yīng)力的周期性變化會造成焊點的疲勞損傷,同時相對于服役環(huán)境的溫度,SnPb釬料的熔點較低,隨著時間的延續(xù),產(chǎn)生明顯的粘性行為,導致焊點的變損傷。有必要分析并找出原因,以避免再次發(fā)生焊點故障。那么今天,就來給大家介紹一下PCB焊點失效分析的主要因素吧。

