什么是HASS測試?主要適用于哪些產品?
2024-07-22 14:00:00
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ASS(Highly Accelerated Stress Screening)測試是一種在產品制造過程中用于篩選和識別潛在缺陷的可靠性測試方法。HASS測試旨在通過施加加速的環境應力,使產品在短時間內暴露出潛在的缺陷,以便在制造過程中及早發現和解決問題,提高產品的可靠性和穩定性。


常見的IC真偽檢測方法
2024-07-19 11:40:00
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IC(集成電路)真偽檢測是為了驗證芯片的真實性和合法性。在現代市場上存在大量的假冒偽劣產品,進行IC真偽檢測可以確保您購買到的芯片是正品,符合規定標準。以下是一些常見的IC真偽檢測方法:


芯片切片分析的一般步驟
2024-07-19 11:20:00
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芯片切片分析是一種常用的技術,用于研究芯片內部結構和特性。通過對芯片進行切片并觀察切片表面的結構,可以獲取有關芯片材料、層次、元件結構等方面的信息。

